雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置如圖所示,雙縫間距離為
d,雙縫到像屏間距為L,調(diào)整實(shí)驗(yàn)裝置使像屏上見(jiàn)到清晰的干涉條紋,關(guān)于該干涉條紋及改變條件后干涉條紋的變化情況,下列敘述中正確的是屏上所有亮線都是從雙縫出來(lái)的兩列光波的波峰與波峰疊加形成的,而所有暗線是波谷與波谷疊加形成的
若將像屏向右或向左平移一小段距離,屏上仍有清晰的干涉條紋
若將雙縫間距
d減小,像屏上兩相鄰明條紋間距變小若改用頻率較大的色光進(jìn)行實(shí)驗(yàn),在其他條件不變的前提下.像屏上兩相鄰暗條紋間距變小
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A、若將像屏向左平移一小段距離,屏上的干涉條紋將變得不清晰 | B、若將像屏向右平移一小段距離,屏上仍有清晰的干涉條紋 | C、若將雙縫間距離d減小,像屏上的兩個(gè)相鄰明條紋間的距離變小 | D、若將雙縫間距離d減小,像屏上的兩個(gè)相鄰暗條紋間的距離增大 |
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科目:高中物理 來(lái)源: 題型:
A.O點(diǎn)是紅光的亮條紋? B.紅光的第一條亮條紋在P點(diǎn)的上方?
C.O點(diǎn)不是藍(lán)光的亮條紋? D.藍(lán)光的第一條亮條紋在P點(diǎn)的上方
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