【題目】微元累積法是常用的物理研究方法,如圖所示為某物理量(y)隨另一物理量(x)變化的函數(shù)圖象,關(guān)于圖象與坐標軸所圍面積大小的物理意義,下列說法正確的是( 。
A. 若y為電場強度E,x為距離d,則“面積”表示x0位置的電勢
B. 若y為電流I,x為時間t,則“面積”表示x0時間內(nèi)流過的電量
C. 若y為電壓U,x為電流I,則“面積”表示x0對應(yīng)狀態(tài)的電功率
D. 若y為電功率P,x為時間t,則“面積”表示x0時間內(nèi)消耗的電能
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【題目】如圖甲所示,在豎直方向上有四條間距相等(均為d)的水平虛線L1、L2、L3、L4,在L1、L2之間和L3、L4之間存在勻強磁場,磁感應(yīng)強度大小均為B、方向垂直于虛線所在平面向里。現(xiàn)有一矩形線圈abcd,長ad=2d、寬cd=d、質(zhì)量為m、電阻為R,將其從圖示位置(cd邊與L1重合)由靜止釋放,速度隨時間的變化關(guān)系如圖乙所示,整個運動過程中線圈平面始終豎直且cd邊始終水平,重力加速度為g,則( 。
A. 在0~t1時間內(nèi),通過線圈的電荷量為
B. 線圈勻速運動的速度大小為
C. t2時刻ab邊與L3重合
D. 0~t3時間內(nèi),線圈產(chǎn)生的熱量為
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【題目】如圖三角形金屬導(dǎo)軌EOF上放有一金屬桿AB,皆處于勻強磁場中。在外力作用下使AB保持與OF垂直,以速度v勻速從O點開始右移,設(shè)導(dǎo)軌和金屬棒均為粗細相同的同種金屬制成,則下列判斷正確的是。 )
A. 電路中的感應(yīng)電流大小不變
B. 電路中的感應(yīng)電動勢大小不變
C. 電路中的感應(yīng)電動勢逐漸增大
D. 電路中的感應(yīng)電流減小
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【題目】質(zhì)量相同的兩個擺球A和B,其擺線長LA>LB,它們都從同一水平位置而且擺線都處于水平狀態(tài)由靜止釋放,如圖所示.以此位置為零勢能面,到達最低點時,以下說法中正確的是( )
A.它們的動能EkA=EkBB.它們的機械能EA=EB
C.它們的加速度aA=aBD.它們對擺線的拉力TA=TB
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【題目】如圖所示,從A、B、C三個不同的位置向右分別以vA、vB、vC的水平初速度拋出三個小球A、B、C,其中A、B在同一豎直線上,B、C在同一水平線上,三個小球均同時落在地面上的D點,不計空氣阻力。則必須( )
A. 先同時拋出A、B兩球,且vA<vB<vC
B. 后同時拋出B、C兩球,且vA<vB<vC
C. 后同時拋出A、B兩球,且vA>vB>vC
D. 先同時拋出B、C兩球,且vA>vB>vC
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【題目】某實驗小組設(shè)計了如下圖()所示的實驗裝置,通過改變生蠔的的質(zhì)量,利用計算機可得滑塊運動的加速度和所受拉力的關(guān)系圖象.他們在軌道水平和傾斜的兩種情況下分別做了實驗,得到了兩條圖線,如圖()示.
()圖線__________是在軌道左側(cè)抬高成斜面情況下得到的(選填“①”或“②”).
()滑塊和位移傳感器發(fā)射部分的總質(zhì)量__________ :滑塊和軌道間的動摩擦因數(shù)__________.
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【題目】如圖甲所示,靜止在水平面C上足夠長的木板B左端放著小物塊A.某時刻,A受到水平向右的外力F作用,F隨時間t的變化規(guī)律如圖乙所示.A、B間最大靜摩擦力大于B、C之間的最大靜摩擦力,假設(shè)最大靜摩擦力等于滑動摩擦力.則在拉力逐漸增大的過程中,下列反映A、B運動過程中的加速度及A與B間摩擦力f1、B與C間摩擦力f2隨時間變化的圖線中正確的是()
A.
B.
C.
D.
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【題目】用兩個一樣的彈簧吊著一根銅棒,銅棒所在虛線范圍內(nèi)有垂直于紙面的勻強磁場,棒中通以自左向右的電流(如圖所示),當(dāng)棒靜止時,彈簧秤的讀數(shù)為F1;若將棒中的電流方向反向,當(dāng)棒靜止時,彈簧秤的示數(shù)為F2,且F2>F1,根據(jù)這兩個數(shù)據(jù),不能確定( )
A. 磁場的方向B. 磁感強度的大小
C. 安培力的大小D. 銅棒的重力
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【題目】光的干涉現(xiàn)象在技術(shù)中有重要應(yīng)用。例如,在磨制各種鏡面或其他精密的光學(xué)平面時,可以用干涉法檢查平面的平整程度。如圖所示,在被測平面上放一個透明的樣板,在樣板的一端墊一個薄片,使樣板的標準平面與被測平面之間形成一個楔形空氣薄層。用單色光從上面照射,在樣板上方向下觀測時可以看到干涉條紋。如果被測表面是平整的,干涉條紋就是一組平行的直線(如圖甲),下列說法正確的是( )
A. 這是空氣層的上下兩個表面反射的兩列光波發(fā)生干涉
B. 空氣層厚度相同的地方,兩列波的路程差相同,兩列波疊加時相互加強或相互削弱的情況也相同
C. 如果干涉條紋如圖乙所示發(fā)生彎曲,就表明被測表面彎曲對應(yīng)位置向下凹
D. 如果干涉條紋如圖乙所示發(fā)生彎曲,就表明被測表面彎曲對應(yīng)位置向上凸
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