實(shí)驗(yàn)步驟如下：①用天平測量物塊和遮光片的總質(zhì)量M，重物的質(zhì)量m；用游標(biāo)卡尺測量遮光片的寬度d；用米尺測量兩光電門之間的距離s；

②調(diào)整輕滑輪，使細(xì)線水平；

③讓物塊從光電門A的左側(cè)由靜止釋放，用數(shù)字毫秒計(jì)分別測出遮光片經(jīng)過光電門A和光電門B所用的時(shí)間△tA和△tB,求出加速度a；

④多次重復(fù)步驟③，求a的平均；

⑤根據(jù)上述實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)求出動(dòng)擦因數(shù)μ。

回答下列為題：

（1）測量d時(shí)，某次游標(biāo)卡尺（主尺的最小分度為1mm）的示如圖（b）所示。其讀數(shù)為 cm。

（2）物塊的加速度a可用d、s、△tA和△tB表示為a=_________。

（3）動(dòng)摩擦因數(shù)μ可用M、m、和重力加速度g表示為μ=__________。

（4）如果細(xì)線沒有調(diào)整到水平.由此引起的誤差屬于 （填“偶然誤差”或”系統(tǒng)誤差”）。

A. 釋放時(shí)彈性勢能等于全過程克服摩擦力做的功

B. 每次釋放后物塊速度達(dá)到最大的位置保持不變

C. 物塊能返回到O點(diǎn)右側(cè)的臨界條件為F>3f

D. 物塊能返回到O點(diǎn)右側(cè)的臨界條件為F>4f

A. S極向下，磁鐵向下運(yùn)動(dòng)

B. S極向下，磁鐵向上運(yùn)動(dòng)

C. N極向下，磁鐵向下運(yùn)動(dòng)

D. N極向下，磁鐵向上運(yùn)動(dòng)

A. 物塊上滑到3號(hào)劈時(shí)，劈開始相對(duì)水平面滑動(dòng)

B. 物塊上滑到4號(hào)劈時(shí)，劈開始相對(duì)水平面滑動(dòng)

C. 物塊上滑到5號(hào)劈時(shí)，劈開始相對(duì)水平面滑動(dòng)

D. 物塊上滑到6號(hào)劈時(shí)，劈開始相對(duì)水平面滑動(dòng)

（1）P點(diǎn)電場強(qiáng)度E為多大？

（2）將點(diǎn)電荷A換成帶電量為2q的點(diǎn)電荷B且仍置于P點(diǎn)，則B所受的電場力為多大？

（3）若P點(diǎn)不放任何電荷，則此時(shí)P處的電場強(qiáng)度又為多大？

A. 把C移近導(dǎo)體A時(shí)，A、B上的金屬箔片都張開

B. 把C移近導(dǎo)體A時(shí)，先把A、B分開，然后移去導(dǎo)體C，A、B上的金屬箔片仍張開

C. 先把C移走，再把A、B分開，A、B上的金屬箔片仍張開

D. 先把A、B分開，再把C移走，然后重新讓A、B接觸，A上的金屬箔片張開，而B上的金屬箔片閉合

A. P、Q兩板構(gòu)成電容器的電容增大

B. P板電荷量增大

C. M點(diǎn)的電勢比N點(diǎn)高

D. P、Q兩板間的場強(qiáng)增大

A. 三次下落時(shí)間不相等

B. 三次拋射的水平初速度v2 >v1 >v3

C. 皮球三次運(yùn)動(dòng)的位移方向不同

D. 擊中目標(biāo)時(shí)的速度方向不同

A. Q1＝6.2×10－18 C B. Q2＝6.4×10－18 C

C. Q3＝6.6×10－18 C D. Q4＝6.8×10－18 C

A. 涂料微粒一定帶負(fù)電

B. 圖中虛線也可視為高壓電場的部分電場線

C. 電場力對(duì)微粒先做正功后做負(fù)功

D. 噴射出的微粒動(dòng)能不斷轉(zhuǎn)化為電勢能